HT-YB-I玉米表型檢測儀

1.1 簡介

玉米表型檢測系統又稱玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、莖稈節間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數。玉米表型檢測系統可廣泛用于各農科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態建模、生長研究等方面起到重要作用。

1.2 適用范圍：

1、玉米株型適用于室內盆栽的玉米

2、玉米株高適用于大田玉米株高測量

3、千粒重適用于室內考種測量

1.3 測量誤差

1、株高測量范圍: 300-3800mm 精度: 0.5%

2、玉米株型:測量范圍:0-1.8m，株高準確度: 1%，角度參數精度: 3%，其他參數準確度:5%

3、數粒精度誤差: 2%，修正后可達100%

1.4 硬件配置

1、手機支架: 用于手機固定拍攝

2、背景布: 黑色磨砂布面

3、背光板: 超薄發光板

4、數據采集器: 超大彩色屏手機

5、玉米株高測量桿: 移動測量式標定桿

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HT-YB-I玉米表型檢測儀

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1.3 測量誤差

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